文献
J-GLOBAL ID:201202272262757690
整理番号:12A1763509
シングルパス走査のKelvinプローブ力顕微鏡の実際上の側面
Practical aspects of single-pass scan Kelvin probe force microscopy
著者 (4件):
LI Guangyong
(Dep. of Electrical and Computer Engineering, Univ. of Pittsburgh, Pittsburgh, Pennsylvania 15261, USA)
,
MAO Bin
(Dep. of Electrical and Computer Engineering, Univ. of Pittsburgh, Pittsburgh, Pennsylvania 15261, USA)
,
LAN Fei
(Dep. of Electrical and Computer Engineering, Univ. of Pittsburgh, Pittsburgh, Pennsylvania 15261, USA)
,
LIU Liming
(Dep. of Electrical and Computer Engineering, Univ. of Pittsburgh, Pittsburgh, Pennsylvania 15261, USA)
資料名:
Review of Scientific Instruments
(Review of Scientific Instruments)
巻:
83
号:
11
ページ:
113701-113701-8
発行年:
2012年11月
JST資料番号:
D0517A
ISSN:
0034-6748
CODEN:
RSINAK
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)