文献
J-GLOBAL ID:201202272445958759
整理番号:12A0430993
表面はプローブによるセシウムでシードした負イオン源の電子密度測定
Electron density measurement of cesium seeded negative ion source by surface wave probe
著者 (15件):
KISAKI M.
(National Inst. for Fusion Sci., Toki 509-5292, JPN)
,
TSUMORI K.
(National Inst. for Fusion Sci., Toki 509-5292, JPN)
,
NAKANO H.
(National Inst. for Fusion Sci., Toki 509-5292, JPN)
,
IKEDA K.
(National Inst. for Fusion Sci., Toki 509-5292, JPN)
,
OSAKABE M.
(National Inst. for Fusion Sci., Toki 509-5292, JPN)
,
NAGAOKA K.
(National Inst. for Fusion Sci., Toki 509-5292, JPN)
,
SHIBUYA M.
(National Inst. for Fusion Sci., Toki 509-5292, JPN)
,
SATO M.
(National Inst. for Fusion Sci., Toki 509-5292, JPN)
,
SEKIGUCHI H.
(National Inst. for Fusion Sci., Toki 509-5292, JPN)
,
KOMADA S.
(National Inst. for Fusion Sci., Toki 509-5292, JPN)
,
KONDO T.
(National Inst. for Fusion Sci., Toki 509-5292, JPN)
,
HAYASHI H.
(National Inst. for Fusion Sci., Toki 509-5292, JPN)
,
ASANO E.
(National Inst. for Fusion Sci., Toki 509-5292, JPN)
,
TAKEIRI Y.
(National Inst. for Fusion Sci., Toki 509-5292, JPN)
,
KANEKO O.
(National Inst. for Fusion Sci., Toki 509-5292, JPN)
資料名:
Review of Scientific Instruments
(Review of Scientific Instruments)
巻:
83
号:
2
ページ:
02B113
発行年:
2012年02月
JST資料番号:
D0517A
ISSN:
0034-6748
CODEN:
RSINAK
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)