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文献
J-GLOBAL ID：201202272854790657
整理番号：12A1016166
Si(100)上に成長させた超薄Co1-xNxSi2膜の広範なRaman分光研究
Extensive Raman spectroscopic investigation of ultrathin Co1-xNixSi2 films grown on Si(100)
PIAO Yinghua
(State Key Lab. of ASIC and System, School of Microelectronics, Fudan Univ., Shanghai 200433, CHN)
,
ZHU Zhiwei
(State Key Lab. of ASIC and System, School of Microelectronics, Fudan Univ., Shanghai 200433, China and Solid-State ...)
,
GAO Xindong
(Solid-State Electronics, The Angstroem Lab., Uppsala Univ., Box 534, SE-75121 Uppsala, SWE)
,
KARABKO Aliaksandra
(Dep. of Electronic Techniques and Technologies, Belarusian State Univ. of Informatics and Radioelectronics, 6 P. ...)
,
HU Cheng
(State Key Lab. of ASIC and System, School of Microelectronics, Fudan Univ., Shanghai 200433, CHN)
,
QIU Zhijun
(State Key Lab. of ASIC and System, School of Microelectronics, Fudan Univ., Shanghai 200433, CHN)
,
LUO Jun
(Inst. of Microelectronics, Chinese Acad. of Sciences, Beijing 100029, CHN)
,
ZHANG Zhi-bin
(Solid-State Electronics, The Angstroem Lab., Uppsala Univ., Box 534, SE-75121 Uppsala, SWE)
,
ZHANG Shi-li
(State Key Lab. of ASIC and System, School of Microelectronics, Fudan Univ., Shanghai 200433, China and Solid-State ...)
,
WU Dongping
(State Key Lab. of ASIC and System, School of Microelectronics, Fudan Univ., Shanghai 200433, CHN)
資料名：
Journal of Vacuum Science & Technology. A. Vacuum, Surfaces and Films
(Journal of Vacuum Science & Technology. A. Vacuum, Surfaces and Films)
巻： 30 号： 4 ページ： 041511-041511-8 発行年： 2012年07月
JST資料番号： C0789B ISSN： 0734-2101 CODEN： JVTAD6 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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