文献
J-GLOBAL ID:201202274090181980
整理番号:12A0965213
長時間酸化後のSi1-xGexナノワイヤの残留コアにおけるゲルマニウムの酸化
Ge Oxidation in the Remaining Cores of Si1-xGex Nanowires After Prolonged Oxidation
著者 (4件):
KIM Sang-Yeon
(Yonsei Univ., Seoul, KOR)
,
KIM Sun-Wook
(Yonsei Univ., Seoul, KOR)
,
KO Dae-Hong
(Yonsei Univ., Seoul, KOR)
,
LEE Hoo-Jeong
(Sungkyunkwan Univ., Suwon, KOR)
資料名:
Journal of Nanoscience and Nanotechnology
(Journal of Nanoscience and Nanotechnology)
巻:
12
号:
4
ページ:
3650-3654
発行年:
2012年04月
JST資料番号:
W1351A
ISSN:
1533-4880
CODEN:
JNNOAR
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)