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文献
J-GLOBAL ID:201202274090181980   整理番号:12A0965213

長時間酸化後のSi1-xGexナノワイヤの残留コアにおけるゲルマニウムの酸化

Ge Oxidation in the Remaining Cores of Si1-xGex Nanowires After Prolonged Oxidation
著者 (4件):
KIM Sang-Yeon
(Yonsei Univ., Seoul, KOR)
KIM Sun-Wook
(Yonsei Univ., Seoul, KOR)
KO Dae-Hong
(Yonsei Univ., Seoul, KOR)
LEE Hoo-Jeong
(Sungkyunkwan Univ., Suwon, KOR)

資料名:
Journal of Nanoscience and Nanotechnology  (Journal of Nanoscience and Nanotechnology)

巻: 12  号:ページ: 3650-3654  発行年: 2012年04月 
JST資料番号: W1351A  ISSN: 1533-4880  CODEN: JNNOAR  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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