文献
J-GLOBAL ID:201202276481250954
整理番号:12A1202852
HTS電力応用装置における低温性誘電体物質の絶縁破壊の確認
Identification of Insulation Defects in Cryogenic Dielectric Materials for the HTS Power Applications
著者 (6件):
SEO I. J.
(Hanyang Univ., Ansan, KOR)
,
LEE Y. J.
(Hanyang Univ., Ansan, KOR)
,
SEONG J. K.
(Hanyang Univ., Ansan, KOR)
,
SHIN W. J.
(Hanyang Univ., Ansan, KOR)
,
LEE B. W.
(Hanyang Univ., Ansan, KOR)
,
KOO J. Y.
(Hanyang Univ., Ansan, KOR)
資料名:
IEEE Transactions on Applied Superconductivity
(IEEE Transactions on Applied Superconductivity)
巻:
22
号:
3
ページ:
7701304,1-4
発行年:
2012年06月
JST資料番号:
W0177A
ISSN:
1051-8223
CODEN:
ITASE9
資料種別:
逐次刊行物 (A)
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)