文献
J-GLOBAL ID:201202277439355432
整理番号:12A0887104
走査型プローブ顕微鏡による極性パターン化強誘電体上で成長した金属ナノ粒子の比較研究
Comparison study of metal nanoparticles grown on polarity-patterned ferroelectrics by scanning probe microscopy
著者 (3件):
PARK Young-Sik
(Dongguk Univ., Seoul, KOR)
,
KIM Jung-Hoon
(Dongguk Univ., Seoul, KOR)
,
YANG Woochul
(Dongguk Univ., Seoul, KOR)
資料名:
Surface and Interface Analysis
(Surface and Interface Analysis)
巻:
44
号:
6
ページ:
759-762
発行年:
2012年06月
JST資料番号:
E0709A
ISSN:
0142-2421
CODEN:
SIANDQ
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)