文献
J-GLOBAL ID:201202277447184310
整理番号:12A0905151
エージング中のSn/Cu-Zn系はんだ接合部の界面の金属間化合物の成長メカニズム
Growth mechanisms of interfacial intermetallic compounds in Sn/Cu-Zn solder joints during aging
著者 (2件):
YU Chi-Yang
(National Tsing Hua Univ., Dep. of Materials Sci. and Engineering, No. 101, Section 2, Kuang-Fu Road, 30013, Hsinchu ...)
,
DUH Jenq-Gong
(National Tsing Hua Univ., Dep. of Materials Sci. and Engineering, No. 101, Section 2, Kuang-Fu Road, 30013, Hsinchu ...)
資料名:
Journal of Materials Science
(Journal of Materials Science)
巻:
47
号:
17
ページ:
6467-6474
発行年:
2012年09月
JST資料番号:
B0722A
ISSN:
0022-2461
CODEN:
JMTSAS
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)