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文献
J-GLOBAL ID:201202277447184310   整理番号:12A0905151

エージング中のSn/Cu-Zn系はんだ接合部の界面の金属間化合物の成長メカニズム

Growth mechanisms of interfacial intermetallic compounds in Sn/Cu-Zn solder joints during aging
著者 (2件):
YU Chi-Yang
(National Tsing Hua Univ., Dep. of Materials Sci. and Engineering, No. 101, Section 2, Kuang-Fu Road, 30013, Hsinchu ...)
DUH Jenq-Gong
(National Tsing Hua Univ., Dep. of Materials Sci. and Engineering, No. 101, Section 2, Kuang-Fu Road, 30013, Hsinchu ...)

資料名:
Journal of Materials Science  (Journal of Materials Science)

巻: 47  号: 17  ページ: 6467-6474  発行年: 2012年09月 
JST資料番号: B0722A  ISSN: 0022-2461  CODEN: JMTSAS  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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