文献
J-GLOBAL ID:201202281611468039
整理番号:12A1668388
走査型電子顕微鏡観察と集束イオンビームのためのその場プローブ技術を利用した局所化グラウンディング,開削,破壊: 岩石の光沢面での実験
Localized Grounding, Excavation, and Dissection Using In-Situ Probe Techniques for Focused Ion Beam and Scanning Electron Microscopy: Experiments With Rock Varnish
Scanning
(Scanning)
2012年09月
0161-0457
逐次刊行物 (A)