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文献
J-GLOBAL ID：201202283259939584
整理番号：12A0697657
収差補正したHAADF-STEMによるInAs/GaSb超格子界面の定量的歪解析
Quantitative strain analysis of interfaces in InAs/GaSb superlattices by aberration-corrected HAADF-STEM
MAHALINGAM K.
(UES Inc., OH, USA)
,
MAHALINGAM K.
(Wright-Patterson Air Force Base, OH, USA)
,
HAUGAN H.J.
(Universal Technol. Corp., OH, USA)
,
HAUGAN H.J.
(Wright-Patterson Air Force Base, OH, USA)
,
BROWN G.J.
(Wright-Patterson Air Force Base, OH, USA)
,
EYINK K.G.
(Wright-Patterson Air Force Base, OH, USA)
,
JIANG Bin
(Lawrence-Berkeley Lab., CA, USA)
,
JIANG Bin
(FEI Co., OR, USA)
資料名：
Proceedings of SPIE
(Proceedings of SPIE)
巻： 8268 ページ： 826831.1-826831.6 発行年： 2012年
JST資料番号： D0943A ISSN： 0277-786X CODEN： PSISDG 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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