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文献
J-GLOBAL ID：201202285052319422
整理番号：12A1440904
プローブ測定における二次電子放出の考察
Consideration of Secondary Electron Emission Effect for Probe Measurement
TAWARAYA Takehito
(Yokohama National Univ., Yokohama, JPN)
,
TSUSHIMA Akira
(Yokohama National Univ., Yokohama, JPN)
,
YOSHIMURA Shinji
(National Inst. Fusion Sci., Gifu, JPN)
資料名：
Japanese Journal of Applied Physics
(Japanese Journal of Applied Physics)
巻： 51 号： 9,Issue 1 ページ： 096101.1-096101.5 発行年： 2012年09月25日
JST資料番号： G0520B ISSN： 0021-4922 CODEN： JJAPB6 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： イギリス (GBR) 言語： 英語 (EN)
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