文献
J-GLOBAL ID:201202285959154556
整理番号:12A0748807
個々の転位セル壁およびセル内部からのマイクロビーム回折を用いた古典的な線プロフィル解析の検証
Validating classical line profile analyses using microbeam diffraction from individual dislocation cell walls and cell interiors
著者 (6件):
LEVINE Lyle E.
(National Inst. Standards and Technol., Maryland, USA)
,
GEANTIL Peter
(Univ. Southern California, California, USA)
,
LARSON Bennett C.
(Oak Ridge National Lab., Tennessee, USA)
,
TISCHLER Jonathan Z.
(Oak Ridge National Lab., Tennessee, USA)
,
KASSNER Michael E.
(Univ. Southern California, California, USA)
,
LIU Wenjun
(Argonne National Lab., Illinois, USA)
資料名:
Journal of Applied Crystallography
(Journal of Applied Crystallography)
巻:
45
号:
2
ページ:
157-165
発行年:
2012年04月
JST資料番号:
D0631A
ISSN:
0021-8898
CODEN:
JACGAR
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)