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文献
J-GLOBAL ID：201202290291829770
整理番号：12A0441511
透過型電子顕微鏡に搭載した新設計波長分散分光計を使用する超軟X線発光分光法
Ultrasoft-X-ray emission spectroscopy using a newly designed wavelength-dispersive spectrometer attached to a transmission electron microscope
TERAUCHI Masami
(Tohoku Univ., Sendai, JPN)
,
TAKAHASHI Hideyuki
(JEOL Ltd., Tokyo, JPN)
,
HANDA Nobuo
(JEOL Ltd., Tokyo, JPN)
,
MURANO Takanori
(JEOL Ltd., Tokyo, JPN)
,
KOIKE Masato
(Japan Atomic Energy Agency, Kyoto, JPN)
,
KAWACHI Tetsuya
(Japan Atomic Energy Agency, Kyoto, JPN)
,
IMAZONO Takashi
(Japan Atomic Energy Agency, Kyoto, JPN)
,
KOEDA Masaru
(Shimadzu Corp., Kyoto, JPN)
,
NAGANO Tetsuya
(Shimadzu Corp., Kyoto, JPN)
,
SASAI Hiroyuki
(Shimadzu Corp., Kyoto, JPN)
,
OUE Yuki
(Shimadzu Corp., Kyoto, JPN)
,
YONEZAWA Zeno
(Shimadzu Corp., Kyoto, JPN)
,
KURAMOTO Satoshi
(Shimadzu Corp., Kyoto, JPN)
資料名：
Journal of Electron Microscopy
(Journal of Electron Microscopy)
巻： 61 号： 1 ページ： 1-8 発行年： 2012年02月
JST資料番号： W1384A ISSN： 0022-0744 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： イギリス (GBR) 言語： 英語 (EN)
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