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文献
J-GLOBAL ID：201202290643099220
整理番号：12A0159753
1060nm VCSELの高速変調動作と信頼性
High Speed and Reliability Study of 1060nm VCSEL
鈴木理仁
(古河電気工業 横浜研 半導体研究開発セ)
,
今井英
(古河電気工業 横浜研 半導体研究開発セ)
,
神谷慎一
(古河電気工業 横浜研)
,
平岩浩二
(古河電気工業 横浜研 半導体研究開発セ)
,
舟橋政樹
(古河電気工業 横浜研 半導体研究開発セ)
,
川北泰雅
(古河電気工業 横浜研 半導体研究開発セ)
,
喜瀬智文
(古河電気工業 横浜研 半導体研究開発セ)
,
中村照幸
(古河電気工業 横浜研 半導体研究開発セ)
,
清水均
(古河電気工業 横浜研 半導体研究開発セ)
,
粕川秋彦
(古河電気工業 横浜研 半導体研究開発セ)
資料名：
電子情報通信学会技術研究報告
(IEICE Technical Report (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
巻： 111 号： 359(LQE2011 123-134) ページ： 11-15 発行年： 2011年12月09日
JST資料番号： S0532B ISSN： 0913-5685 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： 日本 (JPN) 言語： 日本語 (JA)
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