文献
J-GLOBAL ID:201202291408809837
整理番号:12A1219445
集束イオンビーム加工及び画像化を用いるシリカ及びカルコゲナイドガラスからなるマイクロスフィアの欠陥評価
Evaluation of imperfections in silica and chalcogenide glass microspheres using focussed ion beam milling and imaging
著者 (3件):
KANE D. M.
(Macquarie Univ., NSW, AUS)
,
CHATER R. J.
(Imperial Coll. London, London, GBR)
,
MCPHAIL D. S.
(Imperial Coll. London, London, GBR)
資料名:
Journal of Microscopy
(Journal of Microscopy)
巻:
247
号:
2
ページ:
186-195
発行年:
2012年08月
JST資料番号:
B0454B
ISSN:
0022-2720
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
解説
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)