前のページに戻る
この文献は全文を取り寄せることができます
JDreamⅢ複写サービスから文献全文の複写（冊子体のコピー）をお申込みできます。
ご利用には、G-Searchデータベースサービスまたは、JDreamⅢのIDが必要です。
ご利用には、G-Searchデータベースサービスまたは、JDreamⅢのIDが必要です。
既に、G-Searchデータベースサービスまたは、JDreamⅢのIDをお持ちの方
JDreamⅢ複写サービスのご利用が初めての方
取り寄せる文献のタイトルと詳細
文献
J-GLOBAL ID：201202291912205470
整理番号：12A1738534
Kelvinプローブ力顕微鏡法を用いたSiナノワイヤデバイス中の欠陥と輸送特性のキャラクタリゼーション
Characterizing defects and transport in Si nanowire devices using Kelvin probe force microscopy
BAE S-S
(Univ. California, CA, USA)
,
PROKOPUK N
(Univ. California, CA, USA)
,
PROKOPUK N
(NAVAIR Res. Dep., CA, USA)
,
QUITORIANO N J
(McGill Univ., QC, CAN)
,
ADAMS S M
(Univ. California, CA, USA)
,
RAGAN R
(Univ. California, CA, USA)
資料名：
Nanotechnology
(Nanotechnology)
巻： 23 号： 40 ページ： 405706,1-9 発行年： 2012年10月12日
JST資料番号： W0108A ISSN： 0957-4484 CODEN： NNOTER 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： イギリス (GBR) 言語： 英語 (EN)
JDreamⅢ複写サービスとは
JDreamⅢ複写サービスは、学術文献の全文を複写（コピー）して取り寄せできる有料サービスです。インターネットに公開されていない文献や、図書館に収録されていない文献の全文を、オンラインで取り寄せることができます。J-GLOBALの整理番号にも対応しているので、申し込みも簡単にできます。全文の複写（コピー）は郵送またはFAXでお送りします
※ご利用には、G-Searchデータベースサービスまたは、JDreamⅢのIDが必要です
※初めてご利用される方は、JDreamⅢ複写サービスのご案内をご覧ください。
※ご利用には、G-Searchデータベースサービスまたは、JDreamⅢのIDが必要です
※初めてご利用される方は、JDreamⅢ複写サービスのご案内をご覧ください。