文献
J-GLOBAL ID:201202292397083908
整理番号:12A0832740
全周ゲートナノワイヤ金属-酸化物-半導体電界効果トランジスタの移動度の遮蔽遠隔Coulomb散乱を含む計算に関するKubo-Greenwood法-実験との比較
Kubo-Greenwood approach for the calculation of mobility in gate-all-around nanowire metal-oxide-semiconductor field-effect transistors including screened remote Coulomb scattering-Comparison with experiment
著者 (6件):
DURA J.
(CEA, LETI, MINATEC Campus, 17 rue des Martyrs, F-38054 Grenoble Cedex 9, FRA)
,
TRIOZON F.
(CEA, LETI, MINATEC Campus, 17 rue des Martyrs, F-38054 Grenoble Cedex 9, FRA)
,
BARRAUD S.
(CEA, LETI, MINATEC Campus, 17 rue des Martyrs, F-38054 Grenoble Cedex 9, FRA)
,
MUNTEANU D.
(IM2NP-CNRS, UMR CNRS 6242, Bat. IRPHE, 49 rue Joliot Curie, BP 146, 13384 Marseille Cedex 13, FRA)
,
MARTINIE S.
(IM2NP-CNRS, UMR CNRS 6242, Bat. IRPHE, 49 rue Joliot Curie, BP 146, 13384 Marseille Cedex 13, FRA)
,
AUTRAN J. L.
(IM2NP-CNRS, UMR CNRS 6242, Bat. IRPHE, 49 rue Joliot Curie, BP 146, 13384 Marseille Cedex 13, FRA)
資料名:
Journal of Applied Physics
(Journal of Applied Physics)
巻:
111
号:
10
ページ:
103710-103710-9
発行年:
2012年05月15日
JST資料番号:
C0266A
ISSN:
0021-8979
CODEN:
JAPIAU
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)