文献
J-GLOBAL ID:201202293333778577
整理番号:12A0604450
サブミクロン金属薄膜における超高周波での応力勾配誘起疲れ
Stress-gradient induced fatigue at ultra high frequencies in sub micron thin metal films
著者 (4件):
EBERL Christoph
(Karlsruhe Inst. of Technol., Karlsruhe, DEU)
,
COURTY Diana
(Karlsruhe Inst. of Technol., Karlsruhe, DEU)
,
WALCKER Astrid
(Karlsruhe Inst. of Technol., Karlsruhe, DEU)
,
KRAFT Oliver
(Karlsruhe Inst. of Technol., Karlsruhe, DEU)
資料名:
International Journal of Materials Research
(International Journal of Materials Research)
巻:
103
号:
1
ページ:
80-86
発行年:
2012年01月
JST資料番号:
E0438A
ISSN:
1862-5282
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
ドイツ (DEU)
言語:
英語 (EN)