文献
J-GLOBAL ID:201202294509589578
整理番号:12A1457097
変調干渉顕微鏡による計測プラットフォーム
Metrologic platform with a modulation interference microscope
著者 (6件):
LOPAREV A. V.
(OOO Amphora Lab., Moscow)
,
PRAVDIVTSEV A. V.
(OOO Amphora Lab., Moscow)
,
IGNAT’EV P. S.
(OOO Amphora Lab., Moscow)
,
INDUKAEV K. V.
(OOO Amphora Lab., Moscow)
,
OSIPOV P. A.
(OOO Amphora Lab., Moscow)
,
ROMASH E. V.
(Moscow State Technical Univ. STANKIN, Moscow)
資料名:
Journal of Optical Technology
(Journal of Optical Technology)
巻:
79
号:
6
ページ:
371-375
発行年:
2012年06月
JST資料番号:
H0664A
ISSN:
1070-9762
CODEN:
JOTEE4
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)