文献
J-GLOBAL ID:201202295022053644
整理番号:12A0816830
区分型固定解,及び多重測定による電気インピーダンス・トモグラフィー,及びDC抵抗問題に関する適合型確率アルゴリズム
ADAPTIVE AND STOCHASTIC ALGORITHMS FOR ELECTRICAL IMPEDANCE TOMOGRAPHY AND DC RESISTIVITY PROBLEMS WITH PIECEWISE CONSTANT SOLUTIONS AND MANY MEASUREMENTS
著者 (2件):
VAN DEN DOEL Kees
(Univ. British Columbia, British Columbia, CAN)
,
ASCHER Uri M.
(Univ. British Columbia, British Columbia, CAN)
資料名:
SIAM Journal on Scientific Computing
(SIAM Journal on Scientific Computing)
巻:
34
号:
1
ページ:
A185-A205
発行年:
2012年01月
JST資料番号:
W2093A
ISSN:
1064-8275
CODEN:
SJOCE3
資料種別:
逐次刊行物 (A)
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)