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文献
J-GLOBAL ID：201302202003136236
整理番号：13A0935843
電気的注入があるときの半導体発光ダイオードから放出されるAuger電子の直接測定:効率低下に対する主要なメカニズムの同定
Direct Measurement of Auger Electrons Emitted from a Semiconductor Ligh-Emitting Diode under Electrical Injection: Identification of the Dominant Mechanism for Efficiency Droop
IVELAND Justin
(Univ. California, California, USA)
,
MARTINELLI Lucio
(Ecole Polytechnique, Palaiseau, FRA)
,
PERETTI Jacques
(Ecole Polytechnique, Palaiseau, FRA)
,
SPECK James S.
(Univ. California, California, USA)
,
WEISBUCH Claude
(Univ. California, California, USA)
,
WEISBUCH Claude
(Ecole Polytechnique, Palaiseau, FRA)
資料名：
Physical Review Letters
(Physical Review Letters)
巻： 110 号： 17 ページ： 177406.1-177406.5 発行年： 2013年04月26日
JST資料番号： H0070A ISSN： 0031-9007 CODEN： PRLTAO 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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