文献
J-GLOBAL ID:201302203869227180
整理番号:13A0891499
縮退半導体における高性能示数。高濃度ドープ多結晶シリコンにおける結晶粒界によるエネルギーろ過
High Figures of Merit in Degenerate Semiconductors. Energy Filtering by Grain Boundaries in Heavily Doped Polycrystalline Silicon
著者 (5件):
NARDUCCI Dario
(Univ. Milano Bicocca, Milano)
,
SELEZNEVA Ekaterina
(Univ. Milano Bicocca, Milano)
,
CEROFOLINI Gianfranco
(Univ. Milano Bicocca, Milano)
,
FRABBONI Stefano
(Univ. Modena, Modena, ITA)
,
OTTAVIANI Giampiero
(Univ. Modena, Modena, ITA)
資料名:
AIP Conference Proceedings
(AIP Conference Proceedings)
巻:
1449
ページ:
311-314
発行年:
2012年
JST資料番号:
D0071C
ISSN:
0094-243X
資料種別:
会議録 (C)
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)