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文献
J-GLOBAL ID:201302208516665879   整理番号:13A0647989

低温多重化ダイオード・アレーによる容量型低温レベル・インジケータの較正,及び線形検証

CALIBRATION AND LINEARITY VERIFICATION OF CAPACITANCE TYPE CRYO LEVEL INDICATORS USING CRYOGENICALLY MULTIPLEXED DIODE ARRAY
著者 (6件):
KARUNANITHI R.
(Indian Inst. of Sci., Karnataka, IND)
JACOB S.
(Indian Inst. of Sci., Karnataka, IND)
GOUR Abhay Singh
(Indian Inst. of Sci., Karnataka, IND)
DAS M.
(Indian Inst. of Sci., Karnataka, IND)
NADIG D.S.
(Indian Inst. of Sci., Karnataka, IND)
PRASAD M.V.N.
(Indian Space Res. Organization, Karnataka, IND)

資料名:
AIP Conference Proceedings  (AIP Conference Proceedings)

巻: 1434 Vol.A  ページ: 499-506  発行年: 2012年 
JST資料番号: D0071C  ISSN: 0094-243X  資料種別: 会議録 (C)
発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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