文献
J-GLOBAL ID:201302208516665879
整理番号:13A0647989
低温多重化ダイオード・アレーによる容量型低温レベル・インジケータの較正,及び線形検証
CALIBRATION AND LINEARITY VERIFICATION OF CAPACITANCE TYPE CRYO LEVEL INDICATORS USING CRYOGENICALLY MULTIPLEXED DIODE ARRAY
著者 (6件):
KARUNANITHI R.
(Indian Inst. of Sci., Karnataka, IND)
,
JACOB S.
(Indian Inst. of Sci., Karnataka, IND)
,
GOUR Abhay Singh
(Indian Inst. of Sci., Karnataka, IND)
,
DAS M.
(Indian Inst. of Sci., Karnataka, IND)
,
NADIG D.S.
(Indian Inst. of Sci., Karnataka, IND)
,
PRASAD M.V.N.
(Indian Space Res. Organization, Karnataka, IND)
資料名:
AIP Conference Proceedings
(AIP Conference Proceedings)
巻:
1434 Vol.A
ページ:
499-506
発行年:
2012年
JST資料番号:
D0071C
ISSN:
0094-243X
資料種別:
会議録 (C)
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)