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文献
J-GLOBAL ID：201302209525911609
整理番号：13A0023553
集束イオンビームミリングした金属ガラスを使ったSTXM5.3.2.2のビームプロフィルのナイフエッジ測定
A knife-edge measurement of the beam profile of STXM 5.3.2.2 using a focussed ion beam milled metallic glass
BURKE Kerry B.
(Centre for Organic Electronics, Univ. of Newcastle, Callaghan, NSW 2308, AUS)
,
LUBER Erik J.
(Chemical and Materials Engineering, Univ. of Alberta, T6G 2V4 Edmonton, Alberta, CAN)
,
LUBER Erik J.
(National Res. Council Canada, National Inst. for Nanotechnology, T6G 2M9 Edmonton, Alberta, CAN)
,
HOLMES Natalie P.
(Centre for Organic Electronics, Univ. of Newcastle, Callaghan, NSW 2308, AUS)
,
MURRAY Andrew J.
(Fibics Inc., K1A 0G1 Ottawa, Ontario, CAN)
,
BELCHER Warwick J.
(Centre for Organic Electronics, Univ. of Newcastle, Callaghan, NSW 2308, AUS)
,
ZHOU Xiaojing
(Centre for Organic Electronics, Univ. of Newcastle, Callaghan, NSW 2308, AUS)
,
MITLIN David
(Chemical and Materials Engineering, Univ. of Alberta, T6G 2V4 Edmonton, Alberta, CAN)
,
MITLIN David
(National Res. Council Canada, National Inst. for Nanotechnology, T6G 2M9 Edmonton, Alberta, CAN)
,
DASTOOR Paul C.
(Centre for Organic Electronics, Univ. of Newcastle, Callaghan, NSW 2308, AUS)
資料名：
Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena
(Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena)
巻： 185 号： 11 ページ： 453-457 発行年： 2012年11月
JST資料番号： D0266C ISSN： 0368-2048 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： オランダ (NLD) 言語： 英語 (EN)
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