文献
J-GLOBAL ID:201302216093860389
整理番号:13A1443827
動的ベース漏れ電流補償技術を用いた4.5MGy全電離線量耐性CMOSバンドギャップ基準回路
A 4.5MGy TID-Tolerant CMOS Bandgap Reference Circuit Using a Dynamic Base Leakage Compensation Technique
著者 (6件):
CAO Ying
(KU Leuven, Heverlee, BEL)
,
CAO Ying
(SCK-CEN, Mol, BEL)
,
DE COCK Wouter
(SCK-CEN, Mol, BEL)
,
STEYAERT Michiel
(KU Leuven, Heverlee, BEL)
,
LEROUX Paul
(KU Leuven, Heverlee, BEL)
,
LEROUX Paul
(Katholieke Hogeschool Kempen, Geel, BEL)
資料名:
IEEE Transactions on Nuclear Science
(IEEE Transactions on Nuclear Science)
巻:
60
号:
4,Pt.1
ページ:
2819-2824
発行年:
2013年08月
JST資料番号:
C0235A
ISSN:
0018-9499
CODEN:
IETNAE
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)