文献
J-GLOBAL ID:201302218122458555
整理番号:13A0293119
超高圧電子線トモグラフィーと集束イオンビーム法によるヒトエナメル質と象牙質の限外構造観察
Ultra-structural observation of human enamel and dentin by ultra-high-voltage electron tomography and the focus ion beam technique
著者 (4件):
MIURA Jiro
(Osaka Univ. Dental Hospital, Osaka, JPN)
,
KUBO Mizuho
(Osaka Univ. Dental Hospital, Osaka, JPN)
,
NAGASHIMA Tadashi
(Osaka Univ. Dental Hospital, Osaka, JPN)
,
TAKESHIGE Fumio
(Osaka Univ. Dental Hospital, Osaka, JPN)
資料名:
Journal of Electron Microscopy
(Journal of Electron Microscopy)
巻:
61
号:
5
ページ:
335-341
発行年:
2012年10月
JST資料番号:
W1384A
ISSN:
0022-0744
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)