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文献
J-GLOBAL ID：201302220722278857
整理番号：13A0250306
パルス電着硫化スズ膜の構造特性,光学特性および電気特性に及ぼすアニーリングの影響
Effect of annealing on structural, optical and electrical properties of pulse electrodeposited tin sulfide films
MATHEWS N.r.
(Centro de Investigacion en Energia, Universidad Nacional Autonoma de Mexico, Temixco, Morelos 62580, MEX)
,
COLIN GARCIA C.
(Centro de Investigacion en Energia, Universidad Nacional Autonoma de Mexico, Temixco, Morelos 62580, MEX)
,
TORRES Ildefonso Z.
(Centro de Investigacion en Energia, Universidad Nacional Autonoma de Mexico, Temixco, Morelos 62580, MEX)
資料名：
Materials Science in Semiconductor Processing
(Materials Science in Semiconductor Processing)
巻： 16 号： 1 ページ： 29-37 発行年： 2013年02月
JST資料番号： W1055A ISSN： 1369-8001 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： イギリス (GBR) 言語： 英語 (EN)
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