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文献
J-GLOBAL ID：201302222681146340
整理番号：13A0245989
GaAsBi薄膜におけるスピン寿命測定
Spin lifetime measurements in GaAsBi thin films
PURSLEY Brennan
(Applied Physics Program, Univ. of Michigan, Ann Arbor, Michigan 48109, USA)
,
LUENGO-KOVAC M.
(Dep. of Physics, Univ. of Michigan, Ann Arbor, Michigan 48109, USA)
,
VARDAR G.
(Dep. of Materials Sci. and Engineering, Univ. of Michigan, Ann Arbor, Michigan 48109, USA)
,
GOLDMAN R. S.
(Applied Physics Program, Univ. of Michigan, Ann Arbor, Michigan 48109, USA)
,
SIH V.
(Applied Physics Program, Univ. of Michigan, Ann Arbor, Michigan 48109, USA)
資料名：
Applied Physics Letters
(Applied Physics Letters)
巻： 102 号： 2 ページ： 022420-022420-4 発行年： 2013年01月14日
JST資料番号： H0613A ISSN： 0003-6951 CODEN： APPLAB 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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