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文献
J-GLOBAL ID:201302224838354904   整理番号:13A0358874

Si(111)上のBaSi2エピタキシャル膜におけるホウ素原子の格子拡散および粒界拡散

Lattice and grain-boundary diffusions of boron atoms in BaSi2 epitaxial films on Si(111)
著者 (9件):
NAKAMURA K.
(Inst. of Applied Physics, Univ. of Tsukuba, Tsukuba, Ibaraki 305-8573, JPN)
BABA M.
(Inst. of Applied Physics, Univ. of Tsukuba, Tsukuba, Ibaraki 305-8573, JPN)
AJMAL KHAN M.
(Inst. of Applied Physics, Univ. of Tsukuba, Tsukuba, Ibaraki 305-8573, JPN)
DU W.
(Inst. of Applied Physics, Univ. of Tsukuba, Tsukuba, Ibaraki 305-8573, JPN)
SASASE M.
(The Wakasa Wan Energy Res. Center, Tsuruga, Fukui 914-0192, JPN)
HARA K. O.
(Inst. for Materials Res., Tohoku Univ., Sendai 980-8577, JPN)
USAMI N.
(Inst. for Materials Res., Tohoku Univ., Sendai 980-8577, JPN)
TOKO K.
(Inst. of Applied Physics, Univ. of Tsukuba, Tsukuba, Ibaraki 305-8573, JPN)
SUEMASU T.
(Inst. of Applied Physics, Univ. of Tsukuba, Tsukuba, Ibaraki 305-8573, JPN)

資料名:
Journal of Applied Physics  (Journal of Applied Physics)

巻: 113  号:ページ: 053511-053511-4  発行年: 2013年02月07日 
JST資料番号: C0266A  ISSN: 0021-8979  CODEN: JAPIAU  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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