文献
J-GLOBAL ID:201302226777926929
整理番号:13A0844473
有界TOP-FANIN深度3回路のブラックボックスアイデンティティテスト: FIELDは問題ではない
BLACKBOX IDENTITY TESTING FOR BOUNDED TOP-FANIN DEPTH-3 CIRCUITS: THE FIELD DOESN’T MATTER
著者 (2件):
SAXENA Nitin
(Hausdorff Center for Mathematics, Bonn, DEU)
,
SESHADHRI C.
(Sandia National Lab., CA)
資料名:
SIAM Journal on Computing (Society for Industrial and Applied Mathematics)
(SIAM Journal on Computing (Society for Industrial and Applied Mathematics))
巻:
41
号:
5
ページ:
1285-1298
発行年:
2012年
JST資料番号:
D0944A
ISSN:
0097-5397
CODEN:
SMJCAT
資料種別:
逐次刊行物 (A)
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)