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文献
J-GLOBAL ID：201302230426397226
整理番号：13A0650389
寿命指向回路設計への利用を意図した新しい信頼性評価方法
A New Reliability Evaluation Methodology With Application to Lifetime Oriented Circuit Design
SAJJADI-KIA Hamed
(North Dakota State Univ., ND, USA)
,
ABABEI Cristinel
(State Univ. New York, NY, USA)
資料名：
IEEE Transactions on Device and Materials Reliability
(IEEE Transactions on Device and Materials Reliability)
巻： 13 号： 1 ページ： 192-202 発行年： 2013年03月
JST資料番号： W1320A ISSN： 1530-4388 CODEN： ITDMA2 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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