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文献
J-GLOBAL ID：201302230732511725
整理番号：13A1340516
TDDBによる統計的な破壊後のゲート電流増加のためのSPICEコンパクトモデル
A Compact SPICE Model for Statistical Post-Breakdown Gate Current Increase Due to TDDB
KIM Soo Youn
(Purdue Univ., IN, USA)
,
PANAGOPOULOS Georgios
(Purdue Univ., IN, USA)
,
HO Chih-Hsiang
(Purdue Univ., IN, USA)
,
KATOOZI Mehdi
(Boeing Res. & Technol., WA, USA)
,
CANNON Ethan
(Boeing Res. & Technol., WA, USA)
,
ROY Kaushik
(Purdue Univ., IN, USA)
資料名：
Annual Proceedings. IEEE International Reliability Physics Symposium
(Annual Proceedings. IEEE International Reliability Physics Symposium)
巻： 2013 Vol.1 ページ： 7-10 発行年： 2013年
JST資料番号： A0631A ISSN： 1541-7026 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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