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文献
J-GLOBAL ID：201302231667303717
整理番号：13A1039068
フラックスゲートセンサのサイズを考慮した漏洩磁束を用いた多重クラックの逆解析
Inverse Analysis of Multiple Cracks Using Magnetic Flux Leakage Considering the Size of Flux Gate Sensor
NAKASUMI Shogo
(Advanced Industrial Sci. and Technol., Ibaraki, JPN)
,
SUZUKI Takayuki
(Advanced Industrial Sci. and Technol., Ibaraki, JPN)
,
TERAMOTO Tokuo
(Univ. Tsukuba)
資料名：
日本AEM学会誌
(Journal of the Japan Society of Applied Electromagnetics and Mechanics)
巻： 21 号： 1 ページ： 72-76 発行年： 2013年03月10日
JST資料番号： L2703A ISSN： 0919-4452 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： 日本 (JPN) 言語： 英語 (EN)
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