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文献
J-GLOBAL ID：201302237115521777
整理番号：13A0015146
対数正規分布を使った最大見込み予測に基づく白色OLEDの加速寿命試験の研究
A Study of Accelerated Life Test of White OLED Based on Maximum Likelihood Estimation Using Lognormal Distribution
ZHANG Jianping
(Shanghai Inst. Electric Power, Shanghai, CHN)
,
LIU Fang
(Shanghai Inst. Electric Power, Shanghai, CHN)
,
LIU Yu
(Shanghai Inst. Ceramics, Chinese Acad. Sci., Shanghai, CHN)
,
WU Helen
(Univ. Western Sydney, N.S.W., AUS)
,
WU Wenli
(Shanghai Inst. Electric Power, Shanghai, CHN)
,
ZHOU Aixi
(Univ. North Carolina at Charlotte, NC, USA)
資料名：
IEEE Transactions on Electron Devices
(IEEE Transactions on Electron Devices)
巻： 59 号： 12 ページ： 3401-3404 発行年： 2012年12月
JST資料番号： C0222A ISSN： 0018-9383 CODEN： IETDAI 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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