文献
J-GLOBAL ID:201302237400536427
整理番号:13A0341053
コンパクトシステム上でのX線格子干渉測定における感度
Sensitivity in X-Ray Grating Interferometry on Compact Systems
著者 (9件):
THUERING Thomas
(Paul Scherrer Inst., Villigen, CHE)
,
THUERING Thomas
(Swiss Federal Inst. of Technol., Zurich, CHE)
,
MODREGGER Peter
(Paul Scherrer Inst., Villigen, CHE)
,
MODREGGER Peter
(Univ. Lausanne, Lausanne, CHE)
,
HAEMMERLE Stefan
(SCANCO Medical AG, Bruettisellen, CHE)
,
WEISS Stephan
(SCANCO Medical AG, Bruettisellen, CHE)
,
NUEESCH Joachim
(SCANCO Medical AG, Bruettisellen, CHE)
,
STAMPANONI Marco
(Paul Scherrer Inst., Villigen, CHE)
,
STAMPANONI Marco
(Swiss Federal Inst. of Technol., Zurich, CHE)
資料名:
AIP Conference Proceedings
(AIP Conference Proceedings)
巻:
1466
ページ:
293-298
発行年:
2012年
JST資料番号:
D0071C
ISSN:
0094-243X
資料種別:
会議録 (C)
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)