文献
J-GLOBAL ID:201302237407393800
整理番号:13A1178854
過電流に起因する被覆導体の局所性能劣化特性に関する実験と数値シミュレーション
Experiments and Numerical Simulations on Local Degradation Characteristics of Coated Conductor Due to Overcurrent
著者 (6件):
WANG Xudong
(Waseda Univ., Tokyo, JPN)
,
WANG Tao
(Waseda Univ., Tokyo, JPN)
,
ISHIYAMA Atsushi
(Waseda Univ., Tokyo, JPN)
,
YAGI Masashi
(Furukawa Electric Co., Ltd, Tokyo, JPN)
,
MARUYAMA Osamu
(Superconductivity Res. Lab., Tokyo, JPN)
,
OHKUMA Takeshi
(Superconductivity Res. Lab., Tokyo, JPN)
資料名:
IEEE Transactions on Applied Superconductivity
(IEEE Transactions on Applied Superconductivity)
巻:
23
号:
3,Pt.3
ページ:
8002205,1-5
発行年:
2013年06月
JST資料番号:
W0177A
ISSN:
1051-8223
CODEN:
ITASE9
資料種別:
逐次刊行物 (A)
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)