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文献
J-GLOBAL ID：201302237728545768
整理番号：13A1777440
Mg2Siの電子物性と熱電特性に対する二軸歪の影響
Effect of Biaxial Strain on Electronic and Thermoelectric Properties of Mg2Si
BALOUT Hilal
(Aix-Marseille Univ. and CNRS, FST St Jerome, Madirel, UMR 7246, Av. Escadrille Normandie-Niemen, 13397, Marseille ...)
,
BOULET Pascal
(Aix-Marseille Univ. and CNRS, FST St Jerome, Madirel, UMR 7246, Av. Escadrille Normandie-Niemen, 13397, Marseille ...)
,
RECORD Marie-Christine
(Aix-Marseille Univ. and CNRS, FST St Jerome, IM2NP, UMR 7334, Av. Escadrille Normandie-Niemen, 13397, Marseille ...)
資料名：
Journal of Electronic Materials
(Journal of Electronic Materials)
巻： 42 号： 12 ページ： 3458-3466 発行年： 2013年12月
JST資料番号： D0277B ISSN： 0361-5235 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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