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文献
J-GLOBAL ID:201302245240229088   整理番号:13A1500747

半導体レーザの周波数雑音特性を応用した光距離計測の検討

Optical Distance Measurement Using Frequency Noises of a Semiconductor Laser
著者 (8件):
清水直弥
(新潟大 大学院自然科学研究科)
前原進也
(新潟大 大学院自然科学研究科)
土井康平
(東北学院大 工学総合研)
新井英明
(新潟大 大学院自然科学研究科)
佐藤孝
(新潟大 工)
大河正志
(新潟大 工)
大平泰生
(新潟大 工)
坂本秀一
(新潟大 工)

資料名:
電子情報通信学会技術研究報告  (IEICE Technical Report (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))

巻: 113  号: 186(R2013 28-63)  ページ: 11-14  発行年: 2013年08月22日 
JST資料番号: S0532B  ISSN: 0913-5685  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 短報  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
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