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文献
J-GLOBAL ID：201302245240229088
整理番号：13A1500747
半導体レーザの周波数雑音特性を応用した光距離計測の検討
Optical Distance Measurement Using Frequency Noises of a Semiconductor Laser
清水直弥
(新潟大 大学院自然科学研究科)
,
前原進也
(新潟大 大学院自然科学研究科)
,
土井康平
(東北学院大 工学総合研)
,
新井英明
(新潟大 大学院自然科学研究科)
,
佐藤孝
(新潟大 工)
,
大河正志
(新潟大 工)
,
大平泰生
(新潟大 工)
,
坂本秀一
(新潟大 工)
資料名：
電子情報通信学会技術研究報告
(IEICE Technical Report (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
巻： 113 号： 186(R2013 28-63) ページ： 11-14 発行年： 2013年08月22日
JST資料番号： S0532B ISSN： 0913-5685 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報 発行国： 日本 (JPN) 言語： 日本語 (JA)
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