文献
J-GLOBAL ID:201302248061399670
整理番号:13A0577412
真性破壊の50年以上
50+ Years of Intrinsic Breakdown
著者 (4件):
SUN Ying
(Univ. Connecticut, CT, USA)
,
BEALING Clive
(Univ. Connecticut, CT, USA)
,
BOGGS Steven
(Univ. Connecticut, CT, USA)
,
RAMPRASAD Ramamurthy
(Univ. Connecticut, CT, USA)
資料名:
IEEE Electrical Insulation Magazine
(IEEE Electrical Insulation Magazine)
巻:
29
号:
2
ページ:
8-15
発行年:
2013年03月
JST資料番号:
C0422C
ISSN:
0883-7554
CODEN:
IIMAE6
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
解説
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)