文献
J-GLOBAL ID:201302248475636542
整理番号:13A0653930
高解像力電子後方散乱回折による幾何学的に必要な転位密度の測定:探知器ビニングとステップ・サイズの影響
Measurement of geometrically necessary dislocation density with high resolution electron backscatter diffraction: Effects of detector binning and step size
著者 (3件):
JIANG J.
(Univ. Oxford, Oxford, GBR)
,
BRITTON T.B.
(Univ. Oxford, Oxford, GBR)
,
WILKINSON A.J.
(Univ. Oxford, Oxford, GBR)
資料名:
Ultramicroscopy
(Ultramicroscopy)
巻:
125
ページ:
1-9
発行年:
2013年02月
JST資料番号:
W0972A
ISSN:
0304-3991
CODEN:
ULTRD
資料種別:
逐次刊行物 (A)
発行国:
オランダ (NLD)
言語:
英語 (EN)