文献
J-GLOBAL ID:201302254012619002
整理番号:13A0097560
NANDフラッシュメモリに対するラスタ試験結果と重イオンの結果との相関
Correlation of Laser Test Results With Heavy Ion Results for NAND Flash Memory
著者 (9件):
OLDHAM Timothy R.
(Dell Serv. Federal Government, Inc., MD, USA)
,
FRIENDLICH M. R.
(NASA, MD, USA)
,
WILCOX E. P.
(NASA, MD, USA)
,
LABEL K. A.
(NASA, MD, USA)
,
BUCHNER S. P.
(Naval Res. Lab., Washington, D.C., USA)
,
MCMORROW D.
(Naval Res. Lab., Washington, D.C., USA)
,
MAVIS D. G.
(Micro-RDC Corp., NM, USA)
,
EATON P. H.
(Micro-RDC Corp., CO, USA)
,
CASTILLO J.
(Micro-RDC Corp., NM, USA)
資料名:
IEEE Transactions on Nuclear Science
(IEEE Transactions on Nuclear Science)
巻:
59
号:
6,Pt.1
ページ:
2831-2836
発行年:
2012年12月
JST資料番号:
C0235A
ISSN:
0018-9499
CODEN:
IETNAE
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)