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文献
J-GLOBAL ID：201302258632158728
整理番号：13A0340287
GaNナノワイヤにおける3.45eV発光線の微細分光分析
Fine optical spectroscopy of the 3.45 eV emission line in GaN nanowires
SAM-GIAO D.
(CEA-CNRS-UJF Group “Nanophysique et semiconducteurs,” INAC-SP2M, CEA-Grenoble, 17 rue des Martyrs, 38054 Grenoble ...)
,
MATA R.
(Materials Sci. Inst., Univ. of Valencia, P. O. Box 22085, ES-46071 Valencia, ESP)
,
TOURBOT G.
(CEA-CNRS-UJF Group “Nanophysique et semiconducteurs,” INAC-SP2M, CEA-Grenoble, 17 rue des Martyrs, 38054 Grenoble ...)
,
RENARD J.
(CEA-CNRS-UJF Group “Nanophysique et semiconducteurs,” INAC-SP2M, CEA-Grenoble, 17 rue des Martyrs, 38054 Grenoble ...)
,
WYSMOLEK A.
(Inst. of Experimental Physics, Fac. of Physics, Univ. of Warsaw, Hoza 69, PL 00-681 Warsaw, POL)
,
DAUDIN B.
(CEA-CNRS-UJF Group “Nanophysique et semiconducteurs,” INAC-SP2M, CEA-Grenoble, 17 rue des Martyrs, 38054 Grenoble ...)
,
GAYRAL B.
(CEA-CNRS-UJF Group “Nanophysique et semiconducteurs,” INAC-SP2M, CEA-Grenoble, 17 rue des Martyrs, 38054 Grenoble ...)
資料名：
Journal of Applied Physics
(Journal of Applied Physics)
巻： 113 号： 4 ページ： 043102-043102-7 発行年： 2013年01月28日
JST資料番号： C0266A ISSN： 0021-8979 CODEN： JAPIAU 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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