文献
J-GLOBAL ID:201302258632158728
整理番号:13A0340287
GaNナノワイヤにおける3.45eV発光線の微細分光分析
Fine optical spectroscopy of the 3.45 eV emission line in GaN nanowires
著者 (7件):
SAM-GIAO D.
(CEA-CNRS-UJF Group “Nanophysique et semiconducteurs,” INAC-SP2M, CEA-Grenoble, 17 rue des Martyrs, 38054 Grenoble ...)
,
MATA R.
(Materials Sci. Inst., Univ. of Valencia, P. O. Box 22085, ES-46071 Valencia, ESP)
,
TOURBOT G.
(CEA-CNRS-UJF Group “Nanophysique et semiconducteurs,” INAC-SP2M, CEA-Grenoble, 17 rue des Martyrs, 38054 Grenoble ...)
,
RENARD J.
(CEA-CNRS-UJF Group “Nanophysique et semiconducteurs,” INAC-SP2M, CEA-Grenoble, 17 rue des Martyrs, 38054 Grenoble ...)
,
WYSMOLEK A.
(Inst. of Experimental Physics, Fac. of Physics, Univ. of Warsaw, Hoza 69, PL 00-681 Warsaw, POL)
,
DAUDIN B.
(CEA-CNRS-UJF Group “Nanophysique et semiconducteurs,” INAC-SP2M, CEA-Grenoble, 17 rue des Martyrs, 38054 Grenoble ...)
,
GAYRAL B.
(CEA-CNRS-UJF Group “Nanophysique et semiconducteurs,” INAC-SP2M, CEA-Grenoble, 17 rue des Martyrs, 38054 Grenoble ...)
資料名:
Journal of Applied Physics
(Journal of Applied Physics)
巻:
113
号:
4
ページ:
043102-043102-7
発行年:
2013年01月28日
JST資料番号:
C0266A
ISSN:
0021-8979
CODEN:
JAPIAU
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)