文献
J-GLOBAL ID:201302258917833860
整理番号:13A1335031
サブマイクロメーターおよびナノメーターサイズのガラス密閉白金電極へのナノスケール損傷の起源
Origins of Nanoscale Damage to Glass-Sealed Platinum Electrodes with Submicrometer and Nanometer Size
著者 (8件):
NIORADZE Nikoloz
(Univ. Pittsburgh, Pennsylvania, USA)
,
CHEN Ran
(Univ. Pittsburgh, Pennsylvania, USA)
,
KIM Jiyeon
(Univ. Pittsburgh, Pennsylvania, USA)
,
KIM Jiyeon
(Univ. Texas at Austin, TX)
,
SHEN Mei
(Univ. Pittsburgh, Pennsylvania, USA)
,
SHEN Mei
(Univ. Illinois at Urbana-Champaign, IL)
,
SANTHOSH Padmanabhan
(Inst. Technol. Tallaght, Dublin, IRL)
,
AMEMIYA Shigeru
(Univ. Pittsburgh, Pennsylvania, USA)
資料名:
Analytical Chemistry
(Analytical Chemistry)
巻:
85
号:
13
ページ:
6198-6202
発行年:
2013年07月02日
JST資料番号:
A0395A
ISSN:
0003-2700
CODEN:
ANCHAM
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
短報
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)