文献
J-GLOBAL ID:201302259122845999
整理番号:13A1871702
温度依存故障における故障解析技術の開発
Development of Failure Analysis Technique for Temperature Dependent Failures
著者 (3件):
HAT Noorsyuhada
(ON Semiconductor Sbn Bhd., Negeri Sembilan, MYS)
,
SABATE Andrew
(ON Semiconductor Sbn Bhd., Negeri Sembilan, MYS)
,
YUSOF Khairul Aiman
(ON Semiconductor Sbn Bhd., Negeri Sembilan, MYS)
資料名:
Proceedings of the International Symposium on the Physical & Failure Analysis of Integrated Circuits
(Proceedings of the International Symposium on the Physical & Failure Analysis of Integrated Circuits)
巻:
20th
ページ:
563-568
発行年:
2013年
JST資料番号:
W1259A
ISSN:
1946-1542
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
短報
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)