文献
J-GLOBAL ID:201302259132336774
整理番号:13A1431971
AlAs障壁により分離したInAsとAs量子ドットを伴ったGaAsベース構造の電子顕微鏡観察
Electron microscopy of GaAs-based structures with InAs and As quantum dots separated by an AlAs barrier
著者 (6件):
NEVEDOMSKIY V. N.
(Russian Acad. of Sciences, Ioffe Physical-Technical Inst., Politekhnicheskaya ul. 26, 194021, St. Petersburg, RUS)
,
BERT N. A.
(Russian Acad. of Sciences, Ioffe Physical-Technical Inst., Politekhnicheskaya ul. 26, 194021, St. Petersburg, RUS)
,
CHALDYSHEV V. V.
(Russian Acad. of Sciences, Ioffe Physical-Technical Inst., Politekhnicheskaya ul. 26, 194021, St. Petersburg, RUS)
,
PREOBRAZHENSKIY V. V.
(Russian Acad. of Sciences, Rzhanov Inst. of Semiconductor Physics, Siberian Branch, pr. Akademika Lavrent’eva 13 ...)
,
PUTYATO M. A.
(Russian Acad. of Sciences, Rzhanov Inst. of Semiconductor Physics, Siberian Branch, pr. Akademika Lavrent’eva 13 ...)
,
SEMYAGIN B. R.
(Russian Acad. of Sciences, Rzhanov Inst. of Semiconductor Physics, Siberian Branch, pr. Akademika Lavrent’eva 13 ...)
資料名:
Semiconductors
(Semiconductors)
巻:
47
号:
9
ページ:
1185-1192
発行年:
2013年09月
JST資料番号:
T0093A
ISSN:
1063-7826
CODEN:
SMICES
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)