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文献
J-GLOBAL ID:201302259132336774   整理番号:13A1431971

AlAs障壁により分離したInAsとAs量子ドットを伴ったGaAsベース構造の電子顕微鏡観察

Electron microscopy of GaAs-based structures with InAs and As quantum dots separated by an AlAs barrier
著者 (6件):
NEVEDOMSKIY V. N.
(Russian Acad. of Sciences, Ioffe Physical-Technical Inst., Politekhnicheskaya ul. 26, 194021, St. Petersburg, RUS)
BERT N. A.
(Russian Acad. of Sciences, Ioffe Physical-Technical Inst., Politekhnicheskaya ul. 26, 194021, St. Petersburg, RUS)
CHALDYSHEV V. V.
(Russian Acad. of Sciences, Ioffe Physical-Technical Inst., Politekhnicheskaya ul. 26, 194021, St. Petersburg, RUS)
PREOBRAZHENSKIY V. V.
(Russian Acad. of Sciences, Rzhanov Inst. of Semiconductor Physics, Siberian Branch, pr. Akademika Lavrent’eva 13 ...)
PUTYATO M. A.
(Russian Acad. of Sciences, Rzhanov Inst. of Semiconductor Physics, Siberian Branch, pr. Akademika Lavrent’eva 13 ...)
SEMYAGIN B. R.
(Russian Acad. of Sciences, Rzhanov Inst. of Semiconductor Physics, Siberian Branch, pr. Akademika Lavrent’eva 13 ...)

資料名:
Semiconductors  (Semiconductors)

巻: 47  号:ページ: 1185-1192  発行年: 2013年09月 
JST資料番号: T0093A  ISSN: 1063-7826  CODEN: SMICES  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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