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J-GLOBAL ID：201302259630846747 整理番号：13A0953272

JFETに基づく電荷前置増幅器の雑音スペクトル密度(固有寄与および照射寄与)の抽出

Extraction of noise spectral densities(intrinsic and irradiation contributions) of a charge preamplifier based on JFET

著者 (1件)：

ASSAF J.

(Atomic Energy Commission, P.O. Box 6091, Damascus, Syria)

資料名：

Microelectronics Reliability (Microelectronics Reliability)

巻： 53 号： 5 ページ： 712-717 発行年： 2013年05月
JST資料番号： C0530A ISSN： 0026-2714 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：原著論文発行国：イギリス (GBR) 言語：英語 (EN)

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