文献
J-GLOBAL ID:201302261114802495
整理番号:13A1449619
広開口クロック型コンパレータと最尤検出によるロバスト性ランダムチップID発生
Robust Random Chip ID Generation with Wide-Aperture Clocked Comparators and Maximum Likelihood Detection
著者 (2件):
CHOI Yunju
(Seoul National Univ., Seoul, KOR)
,
KIM Jaeha
(Seoul National Univ., Seoul, KOR)
資料名:
IEEE International Symposium on Circuits and Systems
(IEEE International Symposium on Circuits and Systems)
巻:
2013 Vol.2
ページ:
1014-1017
発行年:
2013年
JST資料番号:
A0757A
ISSN:
0271-4302
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)