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文献
J-GLOBAL ID:201302262273760511   整理番号:12A1796892

垂直共振器形面発光レーザダイオード対を利用した長さドリフトに耐性のある周波数走査干渉測定法

Frequency Scanning Interferometry Immune to Length Drift Using a Pair of Vertical-Cavity Surface-Emitting Laser Diodes
著者 (2件):
KAKUMA Seiichi
(Hokkaido Univ., Sapporo, JPN)
KATASE Yasuhiko
(Hokkaido Univ., Sapporo, JPN)

資料名:
Optical Review  (Optical Review)

巻: 19  号:ページ: 376-380  発行年: 2012年12月01日 
JST資料番号: L2272A  ISSN: 1340-6000  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: 日本 (JPN)  言語: 英語 (EN)
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