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J-GLOBAL ID：201302262273760511 整理番号：12A1796892

垂直共振器形面発光レーザダイオード対を利用した長さドリフトに耐性のある周波数走査干渉測定法

Frequency Scanning Interferometry Immune to Length Drift Using a Pair of Vertical-Cavity Surface-Emitting Laser Diodes

著者 (2件)：

KAKUMA Seiichi

(Hokkaido Univ., Sapporo, JPN)

KATASE Yasuhiko

(Hokkaido Univ., Sapporo, JPN)

資料名：

Optical Review (Optical Review)

巻： 19 号： 6 ページ： 376-380 発行年： 2012年12月01日
JST資料番号： L2272A ISSN： 1340-6000 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：原著論文発行国：日本 (JPN) 言語：英語 (EN)

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