文献
J-GLOBAL ID:201302262327503927
整理番号:13A0824793
エネルギー分散X線分光法を使った酸化物界面の原子スケールの化学定量化
Atomic-scale chemical quantification of oxide interfaces using energy-dispersive X-ray spectroscopy
著者 (4件):
LU Ping
(Sandia National Laboratories, P.O. Box 5800, MS 1411, Albuquerque, New Mexico 87185-1411, USA)
,
XIONG Jie
(Center for Integrated Nanotechnologies, Los Alamos National Lab., Los Alamos, New Mexico 87545, USA)
,
VAN BENTHEM Mark
(Sandia National Laboratories, P.O. Box 5800, MS 1411, Albuquerque, New Mexico 87185-1411, USA)
,
JIA Quanxi
(Center for Integrated Nanotechnologies, Los Alamos National Lab., Los Alamos, New Mexico 87545, USA)
資料名:
Applied Physics Letters
(Applied Physics Letters)
巻:
102
号:
17
ページ:
173111-173111-4
発行年:
2013年04月29日
JST資料番号:
H0613A
ISSN:
0003-6951
CODEN:
APPLAB
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
短報
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)