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文献
J-GLOBAL ID:201302262327503927   整理番号:13A0824793

エネルギー分散X線分光法を使った酸化物界面の原子スケールの化学定量化

Atomic-scale chemical quantification of oxide interfaces using energy-dispersive X-ray spectroscopy
著者 (4件):
LU Ping
(Sandia National Laboratories, P.O. Box 5800, MS 1411, Albuquerque, New Mexico 87185-1411, USA)
XIONG Jie
(Center for Integrated Nanotechnologies, Los Alamos National Lab., Los Alamos, New Mexico 87545, USA)
VAN BENTHEM Mark
(Sandia National Laboratories, P.O. Box 5800, MS 1411, Albuquerque, New Mexico 87185-1411, USA)
JIA Quanxi
(Center for Integrated Nanotechnologies, Los Alamos National Lab., Los Alamos, New Mexico 87545, USA)

資料名:
Applied Physics Letters  (Applied Physics Letters)

巻: 102  号: 17  ページ: 173111-173111-4  発行年: 2013年04月29日 
JST資料番号: H0613A  ISSN: 0003-6951  CODEN: APPLAB  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 短報  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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