文献
J-GLOBAL ID:201302262358174565
整理番号:13A1303546
アナログICの欠陥検出率増加に向けたプロセス変動のオンチップ補償を使った新OBIST
New OBIST Using On-Chip Compensation of Process Variations Toward Increasing Fault Detectability in Analog ICs
著者 (5件):
ARBET Daniel
(Slovak Univ. Technol., Bratislava, SVK)
,
STOPJAKOVA Viera
(Slovak Univ. Technol., Bratislava, SVK)
,
MAJER Libor
(R-DAS, s.r.o., Zilina, SVK)
,
GYEPS Gabor
(Slovak Univ. Technol., Bratislava, SVK)
,
NAGY Gabriel
(Slovak Univ. Technol., Bratislava, SVK)
資料名:
IEEE Transactions on Nanotechnology
(IEEE Transactions on Nanotechnology)
巻:
12
号:
4
ページ:
486-497
発行年:
2013年07月
JST資料番号:
W1355A
ISSN:
1536-125X
CODEN:
ITNECU
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)