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文献
J-GLOBAL ID：201302263389594666
整理番号：13A1328470
多結晶およびエピタキシャルマグネトロンスパッタZnO:AlおよびZn1-xMgxO:Al膜の電子および構造特性の比較研究-結晶粒バリアトラップの起源
A comparative study of electronic and structural properties of polycrystalline and epitaxial magnetron-sputtered ZnO:Al and Zn1-xMgxO:Al Films-Origin of the grain barrier traps
BIKOWSKI Andre
(Helmholtz-Zentrum Berlin fuer Materialien und Energie GmbH, Inst. for Solar Fuels, Hahn-Meitner-Platz 1, D-14109 ...)
,
ELLMER Klaus
(Helmholtz-Zentrum Berlin fuer Materialien und Energie GmbH, Inst. for Solar Fuels, Hahn-Meitner-Platz 1, D-14109 ...)
資料名：
Journal of Applied Physics
(Journal of Applied Physics)
巻： 114 号： 6 ページ： 063709-063709-10 発行年： 2013年08月14日
JST資料番号： C0266A ISSN： 0021-8979 CODEN： JAPIAU 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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